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    異物分析
    
        
                
    
                  
    
                
    
                
              
    
            
    
          
    
          
    
            
    
              
    
         
                
    詳細(xì)介紹
    
               
    異物分析，是專門分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。
     
    應(yīng)用范圍
    針對產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì)，如產(chǎn)品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點等。

    表面異物分析項目
    1.有機異物分析
    2.無機異物分析
    3.未知異物分析
    4.產(chǎn)品異常現(xiàn)象比對分析

    主要分析方法

    方法
    應(yīng)用范圍
    紅外光譜法
    FTIR
    1.顯微FTIR， 僅需10um以上樣品即可測試
    2.有機物成分分析 （400-4000cm-1）
    掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法
    SEM/EDS
    1.固體
    2.元素分析/元素分布 （B-~U） /形貌觀察
    俄歇電子能譜分析儀法
    AES
    極表面 （0-3nm） 分析設(shè)備
    X射線電子光能譜分析法
    XPS
    1.更精密的元素分析
    2.元素價態(tài)， 存在形式分析
    飛行時間?次離子質(zhì)譜分析法
    TOF-SIMS
    ppm級別表面有機成分分析
    動態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法
    D-SIMS
    ppb級表面及芯部成分分析
    氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法
    GC-MS
    1.固體/液體
    2.易揮發(fā)組分測試

    分析步驟
    1、表面觀察：主要采用光學(xué)顯微鏡觀察（OM）觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內(nèi)。
    2、異物物質(zhì)種類判斷：主要采用傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）、顯微紅外（M）判斷異物主要是有機物還是無機物。
    3、有機物分析手段：可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。
    4、無機物分析手段（主要是元素分析）：主要采用掃描電鏡能譜儀（SEM-EDS）等。

    測試儀器

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