薄膜厚度檢測是確保薄膜材料性能及質(zhì)量的關鍵環(huán)節(jié),尤其在光學、電子、包裝、半導體等領域,厚度參數(shù)的精確性直接影響產(chǎn)品的透光性、導電性、機械強度及功能穩(wěn)定性。本服務基于先進的光學與機械測量技術,結(jié)合國際通用的檢測標準,為客戶提供高精度、高效率的薄膜厚度檢測方案。
檢測方法涵蓋非接觸式光學測量(如激光干涉法、白光干涉法、分光光度法)與接觸式機械測量(壓力式面接觸法),可滿足不同材質(zhì)(塑料、金屬鍍層、光學涂層等)及場景(實驗室研究、工業(yè)在線檢測)需求。其中,光學法具有快速、無損、精度高(可達納米級)的優(yōu)勢;機械法則適用于微觀不平整薄膜的仲裁檢測,確保數(shù)據(jù)統(tǒng)一性。
檢測范圍
1. 材料類型:
- 塑料薄膜(BOPP、PET、PE等)
- 光學薄膜(增透膜、反射膜、濾光膜)
- 半導體薄膜(硅基薄膜、金屬鍍層)
- 包裝材料(復合膜、阻隔膜)
2. 厚度范圍:
- 機械法:0.1 μm – 5 mm(適用于仲裁檢測)
- 光學法:1 nm – 1 mm(高精度非接觸測量)
3. 適用場景:
- 實驗室研發(fā)(如納米級光學涂層驗證)
- 工業(yè)生產(chǎn)(在線厚度監(jiān)控與質(zhì)量管控)
- 質(zhì)量仲裁(符合國際標準方法的權威檢測)
測試標準
1. GB/T 6672-2001
《塑料薄膜和薄片厚度測定 機械測量法》
- 方法:壓力式面接觸法,采用恒定壓力(如1 kPa)與標準接觸面積,消除微觀起伏對測量結(jié)果的影響。
- 適用:塑料薄膜、包裝材料的仲裁檢測。
2. ISO 4591:1992
《塑料 薄膜和薄片 機械掃描法測定厚度》
- 方法:機械掃描法,適用于連續(xù)測量薄膜厚度分布。
3. ASTM E252-06
《用稱重法測定箔、薄膜和金屬片厚度的標準試驗方法》
- 方法:通過單位面積質(zhì)量與材料密度換算厚度,適用于金屬鍍層與均質(zhì)薄膜。
4. ISO 2808:2019
《色漆和清漆 漆膜厚度的測定》
- 方法:結(jié)合光學干涉儀或渦流儀,適用于涂層厚度檢測。
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